RFID测试系统现场交流会

在聚星仪器深耕测试测量15周年之际，聚星仪器资深RFID测试工程师走近用户，与您深入探讨交流RFID测试测量方面的技术发展，多维度的测试解决方案以及实际应用案例。 

主讲人：李诚   

主讲人介绍： 聚星仪器资深工程师，具有丰富的RFID测试产品咨询经验。

交流会时长：1小时

议程大纲：

·         RFID技术背景及应用

·         RFID协议标准及演进

·         RFID测试模式和构架

·         RFID符合性测试、性能测试、应用测试

·         RFID测试案例分享

·         RFID测试设备演示

预约方式：

1. 发送邮件至info@jxinst.com 报名 

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